簡要描述:160MHz介電常數(shù)儀——航天偉創(chuàng) LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到160MHz。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,建材,綜合 |
LDJD-C型160MHz介電常數(shù)儀——航天偉創(chuàng)
一、主要參數(shù)
1. 信號源頻率覆蓋范圍100kHz~160MHz
2. 信號源頻率精度3×10-5 ±1個字, 6位有效數(shù)字;信號頻率覆蓋比11000:1;采樣精度12BIT(高精度A/D采樣);
3.Q值測量范圍:1~1000自動/手動量程;Q值分辨率0.1,4位有效數(shù)字;Q值測量工作誤差<5%;
4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
5.電感測量范圍:1nH~140mH,分辨率0.1nH,自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能;
6.電容直接測量范圍:1pF~25nF,分辨率0.1pF,準確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%;
7.主電容調(diào)節(jié)范圍: 17~240pF(一體鍍銀成型,精度高);帶步進馬達,電容自動搜索;
8. 材料測試厚度:0.1mm~10mm;
9. 合格指示預(yù)置功能范圍:5~1000;
10.LCD顯示參數(shù)F,L,C,Q,Lt,Ct波段等;
11.環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
13.(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:
數(shù)顯式微桿,平板電容器:
極片尺寸: 38mm
極片間距可調(diào)范圍:≥15mm
夾具插頭間距:25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
測微桿分辨率:0.001mm
測試極片:材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm
*液體杯:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm
14. 電感組LKI-1:
分別由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。
二 介質(zhì)損耗測試方法與步驟
1. 主機C0值的計算方式:
a) 選一個適當?shù)闹C振電感接到“Lx”的兩端;
b) 將調(diào)諧電容器調(diào)到200P左右,令這個電容是C4,
c) 按下儀器面板的頻率搜索鍵,使測試回路諧振,諧振時Q的讀數(shù)為Q4(注:若頻率搜索未能找到&高Q值諧振點,可以通過頻率旋鈕來微調(diào)頻率來達到Q值大值的諧振點;
d) 將測試夾具接在“Cx”兩端,放入材料,上下極片夾緊材料后記住夾具顯示值,然后拿出材料,調(diào)回到夾具的顯示數(shù)值,調(diào)節(jié)主調(diào)電容,使測試電路重新諧振,此時可變電容器值為C3,Q值讀數(shù)為Q3。(注:C3數(shù)值肯定比C4要小)
機構(gòu)電容的有效電容為:Cz= C4-C3
分布電容為機構(gòu)電容CZ和電感分布電容CL(參考電感的技術(shù)說明)的和
介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值為
2. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。
3. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。
4. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平直。
5. 調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。再松開兩片極片,把被測樣品夾入兩片極片之間,調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,到的平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用S916測試夾具的,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2,改變主機上的主調(diào)電容容量,使主機處于諧振點(Q值大值,為了得到準確的Q值請耐心來回調(diào)節(jié)主調(diào)電容,當Q為大值時候可以稍等1分鐘,等Q值穩(wěn)定),然后按一次 主機上的小數(shù)點(tgδ)鍵(請用絕緣材料來按,不要用手來按),在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x(C0=Cz+CL電感分布電容)需要手動輸入,記住厚度D2的值,此時顯示數(shù)值為C2和Q2。
6. 取出S916測試夾具中的樣品,(保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變)這時主機又失去諧振(Q值變小),再改變主機上的主調(diào)電容容量,使主機重新處于諧振點(Q值大值,為了得到準確的Q值請耐心來回調(diào)節(jié)主調(diào)電容,當Q為大值時候可以稍等1分鐘,等Q值穩(wěn)定))上。
7. 注意:多次測試同一個材料時,要求保持每次材料厚度的讀數(shù)一致。
8. 第二次按下 主機上的小數(shù)點(tgδ)鍵,顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1,同時顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =.x x x x x ,即完成測試。
9. 出錯提示,當出現(xiàn)tn = NO 顯示時,說明測試時出現(xiàn)了差錯,發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。
附錄 一
顯示數(shù)據(jù)介紹:
C1 | 材料拿出后,諧振時測得的電容值 |
C2 | 材料在夾具中,諧振時測得的電容值 |
Q1 | 材料拿出后,諧振時測得的Q值 |
Q2 | 材料在夾具中,諧振時測得的Q值 |
CZ | 主機+測試夾具測得的結(jié)構(gòu)電容值 |
CL | 標準電感的分布電容值 |
C0 | 結(jié)構(gòu)電容值+電感的分布電容值 |
D2 | 材料的厚度 |
tn | 介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值 |
附錄 二
LKI-1電感組
LKI-1型電感組共包括不同電感量的電感9個,凡儀器在進行測試線圈的分布電容量,電容器的電容量,高頻介質(zhì)損耗,高頻電阻和傳輸線特性阻抗等高頻電路和元件的電性能時,必須用電感組作輔助工具。
本電感組有較高Q值,能使儀器測量時得到尖銳諧振點,因而增加其測量的準確度,各電感的有關(guān)數(shù)據(jù)如下表:
電感No | 電感量 | 準確度% | Q值≥ | 分布電容約略值 | 諧振頻率范圍 MHz | 適合介電常數(shù)測試頻率 | |
QBG-3E/3F | AS2853A | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 180 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 180 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
10 | 15nH | ±10% | 40 | 0 |
| ≥100 | 100MHz |
附錄 三
一 如何測試帶粘性超薄絕緣材料的介電常數(shù)
1 用錫箔紙覆膠在材料的兩面,上下層錫箔紙不能接觸。錫箔紙厚度為DX;
2 超薄材料需要疊加:疊加方式如下
250μ貼合6層后測試;
200μ貼合8層后測試;
175μ貼合9層后測試;
125μ貼合12層后測試;
100μ貼合15層后測試;
75μ貼合20層后測試;
50μ貼合30層后測試。
3 計算公式
Σ=(D2-2*DX)/D4
4 介質(zhì)損耗系數(shù)測試同理
LDJD-C型160MHz介電常數(shù)儀——航天偉創(chuàng)
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